泰码思测控技术有限公司
TMS Technology Co., Ltd
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公司信息
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2017年成都泰码思集成电路分析与测试技术研讨会
2017-06-30 13:28
        6月28日下午,由成都泰码思测控技术有限公司主办的集成电路分析与测试技术研讨会在菁蓉国际广场顺利举行。有超过70位客户、合作伙伴、各高校研究人员、媒体共同探讨了在半导体与物联网产业日新月异的飞速发展背景下,如何缩短产品Time-to-Market 周期,大幅度提高 IC 测试效率,降低测试成本等热点话题。
   
    成都泰码思测控技术有限公司总经理吴志宇先生致欢迎词
 

        泰码思此次联合芯空间及上海微技术工研院、美国国家仪器等公司,共同为业界同仁介绍最新的集成电路分析及测试手段,并分享众多实际案例。研讨会期间同时进行了设备展示,参会人员与现场专家和技术人员进行了深度的交流与讨论。
   
法国MUTEST公司首席技术官Mr. Mathieu Duprez “Memory产品验证和量产方案”专题演讲


上海微技术工研院项目经理Derek Yang “MEMS的技术分析与测试”专题演讲


美国国家仪器(NI)专家陈宇睿 “物联网与无线通信”专题演讲


西安庆云电气有限公司销售经理 王兵 “大功率器件测试”专题演讲


成都泰码思测控技术有限公司专家孙小刚 “Flash芯片测试方案”专题演讲



成都泰码思测控技术有限公司专家刘畅 “MUTEST空间环境测试”专题演讲


会场一角



与会人员参观设备并与专家交流
 
       论坛圆满举行,会场座无虚席,我们诚挚的感谢所有到场的嘉宾与合作伙伴,也希望我们的合作因为有你们而取得更大的发展空间和机会。

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